Vollautomatische Wafer-Probing-Ausrüstung: PS4L-FA
PS4L-FA Hauptmerkmale
- Vollautomatisches Wafer-Probing-Gerät
- Nach Anforderung konfiguriert
- Basierend auf der Probe System for Life (PS4L) Plattform
- Kassetten- oder FOUP-basierte Handhabungssysteme
- Manuelle, halb- und vollautomatische Wafer-Testmodi
- Umfangreiche Auswahl an Optionen und Funktionen
- Produktionstests von 100, 150, 200 und 300 mm Wafern
SemiProbe bietet eine Palette vollautomatischer Wafer-Probing-Systemen mit mehreren einzigartigen Modellen zur Auswahl, die robust sind und Probing-Hochgeschwindigkeitslösungen für die Analyse- oder Produktion von Halbleiterwafern bieten. Die Systeme sind mit Kassettenhaltern, Pre-aligners und Robotersystemen mit Endeffektoren ausgestattet, die speziell für die Anwendung entwickelt sind.
Das Sortiment umfasst automatische Probing-Systeme für 100-, 150-, 200-, 300-mm- und 450-mm-Wafer mit einem modularen Aufbau, der zukünftige Funktionserweiterungen und Modifikationen für unterschiedliche Anforderungen ermöglicht.
Die intuitive PILOT™-Steuerungssoftware erleichtert die Einrichtung, Anbindung und Bedienung der Systeme. Bei Bedarf können Softwaremodule zum Basissystem hinzugefügt werden. Individuelle Kundenanwendungen können mit der PILOT Control-Software integriert werden, um ein maßgeschneidertes System zu erstellen, das spezifische Anforderungen erfüllt. Die Kommunikation kann über RS-232, GPIB oder TCP/IP erfolgen, sodass das System entweder als Controller oder als Slave fungieren kann.
Merkmale der vollautomatischen Wafer-Probing-Systeme PS4L-FA:
- Mehrere Anwendungen mit demselben System: DC, Hochfrequenz, OPTO, MEMS und mehr
- Verarbeitet bis zu fünfzig Wafern und Substrate mit einem Durchmesser von 100, 150, 200 und 300 mm
- Behandelt Chips und Wafern mit zwei Endeffektoren
- Behandelt dünne und verzogene Wafern bis zu einer Dicke von 90 µm und mehr
- Flexible PILOT Control Software Suite – Ausrichtung, Profilierung, Wafer-Mapping, Schnittstellen und mehr
- Zahlreiche Optionen – Thermo-Chucks, Optik, Barcodeleser, OCR, Manipulatoren, Testkarten und mehr
- Produktions- und Analysefunktionen, individuell konfiguriert für Ihre Bedürfnisse und Anwendung
PS4L-FA Vollautomatische Wafer-Probing-Ausrüstung Broschüren
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PS4L-FA Vollautomatische Systemübersicht
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PS4L-FA-4 (100 mm) Vollautomatische Wafer-Probing-Ausrüstung
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PS4L-FA-6 (150 mm) Vollautomatische Wafer-Probing-Ausrüstung
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PS4L-FA-8 (200 mm) Vollautomatische Wafer-Probing-Ausrüstung
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PS4L-FA-12 (300 mm) Vollautomatische Wafer-Probing-Ausrüstung
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SemiProbe Unternehmensübersicht
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Anwendungsbeispiele
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Knowledge Base-Artikel
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Weitere Informationen
Anwendungen
Halbleiterforschung, Waferentwicklung, Gerätecharakterisierung, Produktionstests, Fehleranalyse und Materialentwicklung von mikroelektronischen Bauelementen, MEMS, medizinischen Sensoren, Silizium-Photonik, Optoelektronik, Photovoltaik, Mikrowelle, HF/HF, Leistung, Biomedizin, Nanoelektronik, Spintronik, Mikrofluidik und verpackten Geräten usw.
Branchensegmente
Automobil, Medizin, Konsumgüter, Industrie, Luft- und Raumfahrt, Materialwissenschaft, Raumfahrt, Verteidigung und Forschung usw.
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