Wafer-Probing-Zubehör
Key Features
- Erschwingliches Wafer-Probing-Zubehör
- Probing-Spitzen: Wolfram, vergoldet, Berylliumkupfer usw.
- Manipulatoren: Vakuum- oder Magnetsockel, variabler Weg und Auflösung
- Auswahl an HF-, Mikrowellen-, Triaxial- und Koaxial-Probenarmen
- Probe-Card-Halter sowohl in 4,5″- als auch in 6,0″-Konfigurationen
- Miniatur-Vakuumpumpen für viele Anwendungen geeignet
- Universell für SemiProbe und viele andere OEM-Probe-Stationen
SemiProbe bietet eine breite Palette an Qualitätszubehör zur Unterstützung seiner manuellen, halb- und vollautomatischen Wafer-Probing-Systeme wie dem modularen Probe System for Life™.
Das Zubehör für Wafer-Probes umfasst Probe-Spitzen in verschiedenen Größen und Materialien, darunter Wolfram, Wolframkarbid, vergoldet und Berylliumkupfer, für Probing-Featuregrößen von unter 4 Mikrometer bis über 100 Mikrometer, um alle denkbaren Anforderungen abzudecken!
Probenarme sind für Hochspannungs- (HV), Hochfrequenz- (HF) und Hochstrommessungen erhältlich. Probenarme für Quasi- und True-Kelvin-Messungen sind auch in koaxialer oder triaxialer Konfiguration erhältlich. Der HF-Probenarm kann auch Faserklemmen für optische Messungen aufnehmen.
SemiProbe bietet auch eine Reihe von kompakten Manipulatoren an, die alle oben genannten Probenarm-/Spitzenkombinationen unterstützen. Alle Manipulatoren können über Vakuum-, mechanische oder magnetische Sockel am Prober befestigt werden, was sie nicht nur für SemiProbe-Systeme, sondern für alle OEM’s universell macht! Wo individuelle Manipulatoren nicht ausreichen, können an alle SemiProbe-Probing-Systeme (einschließlich des Laborassistenten!) Probe-Card-Halter nach Industriestandard in den Größen 4,5″ oder 6,0″ angebracht werden.
Miniatur-Vakuumpumpen und -Luftkompressoren, die für Wafer-Probing und viele andere Laboranwendungen geeignet sind, können ebenfalls geliefert werden.
Wafer-Probing-Zubehör Broschüren
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Wafer-Probe Tipp-Übersicht
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Leitfaden zur Auswahl des Tastarms
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Knowledge Base-Artikel
Beschreibung
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Glossar der Wafer-Probing-Begriffe und Akronyme
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Was ist eine Wafer-Probe-Station und wie funktioniert sie?
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Wafer Probe Tipp-Auswahl (IKB-034)
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Probe Station Manipulator Übersicht (IKB-055)
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Beschreibung
Probe Station Wafer-Chuck-Anleitung (IKB-056)
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Weitere Informationen
Anwendungen
Halbleiterforschung, Waferentwicklung, Gerätecharakterisierung, Produktionstests, Fehleranalyse und Materialentwicklung von mikroelektronischen Bauelementen, MEMS, medizinischen Sensoren, Silizium-Photonik, Optoelektronik, Photovoltaik, Mikrowelle, HF/HF, Leistung, Biomedizin, Nanoelektronik, Spintronik, Mikrofluidik und verpackten Geräten usw.
Branchensegmente
Automobil, Medizin, Konsumgüter, Industrie, Luft- und Raumfahrt, Materialwissenschaft, Raumfahrt, Verteidigung und Forschung usw.
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