Halbautomatische Wafer Probe Ausrüstung: PS4L-SA
PS4L-SA Hauptmerkmale
- Modulares halbautomatisches Wafer-Probe ausrüstung
- Konfiguriert nach den Anforderungen der Anwendung
- Für analytische charakterisierung und produktion testen
- Prüfung einzelner Chips, Teil- und Vollwafer bis zu 300 mm
- Umfangreiche Optionen und Funktionen für die Nachrüstung
- Moderne Software mit offener Architektur
- Robust, zuverlässig, einfach zu programmieren und zu bedienen
SemiProbe stellt ein komplettes Sortiment an halbautomatischen Wafer-Probers her, die auf der Plattform Modular Probe System For Life (PS4L)-Plattform basieren und es dem Benutzer ermöglichen, eine Halbleiter-Probe-Station nach seinen genauen Anforderungen zu konfigurieren.
Die Produktpalette umfasst halbautomatische Probe-Stationen für Wafer bis zu 100, 150, 200 und 300 mm, mit einem modularen Design, das zukünftige Upgrades für größere Wafergrößen, Automatisierung und Funktionalität ermöglicht, oder wenn zusätzliche oder andere Testressourcen und Anforderungen benötigt werden.
Alle halbautomatischen Wafer-Probing-Geräte von SemiProbe verwenden die fortschrittliche Pilot Control Software, ein DLL-basiertes System mit offener Architektur, das eine einfache Kommunikation und Integration neuer Funktionen, Fähigkeiten und Zubehörteile mit einem Minimum an Zeit, Geld und Aufwand ermöglicht.
Die kompakten halbautomatischen Wafer-Prober von SemiProbe sind zuverlässig, einfach einzurichten und zu bedienen und verfügen über ein stabiles Design für wiederholbare Ergebnisse.
Übersicht über die halbautomatische Wafer-Prober “PS4L” Produktpalette:
- Anpassungsfähige modulare Hardware- und Software-Architektur
- Versionen von 100, 150, 200 und 300 mm
- Kompaktes, zuverlässiges und robustes Design
- Vor Ort aufrüstbar (Wafergröße und/oder Funktionalität)
- Schnelle, genaue und wiederholbare Leistung
- Idealer Ersatz für alte Legacy Prober
- PILOT Prober Steuerungssoftware
- Einfaches Ausrichten, Einrichten und Bedienen
- Fernsteuerungsoptionen (TTL, RS232C, GPIB, TCP/IP)
- DC bis Terahertz
- Heiß-/Kaltkammeroptionen oder Upgrades
- Kundenspezifische Konfiguration für Ihre Bedürfnisse und Anwendung
Halbautomatische Wafer-Sonden-Ausrüstung Broschüren
Datei
PS4L-SA Halbautomatische Systemübersicht
Herunterladen
Datei
PS4L-SA-4 (100 mm) Halbautomatische Wafer Probing Ausrüstung
Herunterladen
Datei
PS4L-SA-6 (150 mm) Halbautomatische Wafer Probing Ausrüstung
Herunterladen
Datei
PS4L-SA-8 (200 mm) Halbautomatische Wafer Probing Ausrüstung
Herunterladen
Datei
PS4L-SA-12 (300 mm) Halbautomatische Wafer Probing Ausrüstung
Herunterladen
Datei
SemiProbe Unternehmensübersicht
Herunterladen
Anwendungsbeispiele
Halbautomatische VCSEL-Dioden Wafer Probe Station

Mehr
Halbautomatische Opto Doppelseitige Wafer Probe Station

Mehr
Halbautomatische MEMS Vakuum Wafer Probe Station

Mehr
Halbautomatische 300mm Hohe Leistung Wafer Probe Station

More
Halbautomatische Hochfrequenz Wafer Probe Station

Mehr
Halbautomatische Mikrofluidische 200mm Probe Station

Mehr
Halbautomatische Vakuum Hochleistungs Probe-Station

Mehr
Halbautomatische VCSEL – EELDs gewürfelte Wafer Probe

Mehr
Halbautomatische Probe Station zur Charakterisierung

Mehr
Halbautomatische Silizium Photonik Wafer Probe

Mehr
Halbautomatische MEMS Probe Card Wafer Probe

Mehr
Halbautomatische Opto Doppelseitige Wafer Probe Station

More
Halbautomatische Probe Station, Magnetische Stimulation

More
Halbautomatischer Magnetstimulations- und Wärmetest

More
Verwandte Produkte
Wafer Probe System für das Leben (PS4L) Übersicht

Mehr
Manuelles Wafer-Probe-System für das Leben (PS4L-M)

Mehr
Vollautomatische Wafer-Prober

Mehr
Anwendungsspezifische Wafer-Probe-Stationen

Mehr
Wafer Probe Zubehör

Mehr
Knowledge Base-Artikel
Beschreibung
Beschreibung
Glossar der Wafer-Probing-Begriffe und Akronyme
Verbinden
Beschreibung
Was ist eine Wafer-Probe-Station und wie funktioniert sie?
Verbinden
Beschreibung
Wafer Probe Tipp-Auswahl (IKB-034)
Verbinden
Beschreibung
Probe Station Manipulator Übersicht (IKB-055)
Verbinden
Beschreibung
Probe Station Wafer-Chuck-Anleitung (IKB-056)
Verbinden
Weitere Informationen
Anwendungen
Halbleiterforschung, Waferentwicklung, Gerätecharakterisierung, Produktionstests, Fehleranalyse und Materialentwicklung von mikroelektronischen Bauelementen, MEMS, medizinischen Sensoren, Silizium-Photonik, Optoelektronik, Photovoltaik, Mikrowelle, HF/HF, Leistung, Biomedizin, Nanoelektronik, Spintronik, Mikrofluidik und verpackten Geräten usw.
Branchensegmente
Automobil, Medizin, Konsumgüter, Industrie, Luft- und Raumfahrt, Materialwissenschaft, Raumfahrt, Verteidigung und Forschung usw.
SemiProbe Webseite
Region
Deutschland – Europa
Anfrageformular











Back to top