Fallstudien zur SemiProbe-Anwendung
Diese Seite enthält Links zu erfolgreichen Kundenfallstudien, in denen eine Reihe von Beispielanwendungen für Wafer-Probings beschrieben werden, darunter Hochfrequenz-, MEMS-, Optoelektronik- und Silizium-Photonik, Vakuum, Gerätecharakterisierung, Magnetstimulation, Mikrofluidik und Hochleistungssondentests. Die beschriebenen Systeme werden weltweit in manuellen, halbautomatischen oder vollautomatischen Konfigurationen in Kundenanlagen installiert.
Um spezifische Fallstudien anzuzeigen, wählen Sie bitte entweder den gewünschten Automatisierungsgrad “Prozess” (d. h. manuell, halbautomatisch oder vollautomatisch) und/oder die “Anwendung” aus. Hinweis: In der Standardansicht werden alle Beispielanwendungen und -dokumente angezeigt, die als PDF-Dateien geöffnet sind.
Semiautomatic PS4L Wafer Probe Station for Device Characterization
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Semiautomatic PS4L Wafer Probe Station for High Frequency Thermal Test
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Manual PS4L Wafer Probe Station for High Frequency Test
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Automatic PS4L Wafer Probe Station for High Frequency 5G Test
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Manual LAB Assistant Wafer Probing System for High Frequency Testing
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Manual LAB Assistant Wafer Probe Station for Device Characterization
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Automatic PS4L Wafer Prober for Device Characterization
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Manual PS4L Vacuum Wafer Probe Station for High Voltage Test
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Manual PS4L 3kV High Power Wafer Probe Station
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Semiautomatic PS4L 300mm High Voltage Wafer Prober
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Semiautomatic PS4L Wafer Probe Station 10kV High Power Test
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LAB Assistant High Power Manual Wafer Probe Station
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Manual LAB Assistant Probe Station for Magnetic Stimulation
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Manual PS4L Wafer Probe Station for Magnetic Stimulation
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Semiautomatic PS4L Wafer Probe Station for Microfluidic MEMS Testing
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Semiautomatic PS4L Wafer Probe Station for Microfluidic MEMS Test
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Automatic PS4L Vacuum Wafer Probe Station
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Fully Automatic MEMS Vacuum Wafer Probing
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Semiautomatic MEMS Vacuum Wafer Probe Station
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Fully Automatic MEMS Wafer Probe Station
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Manual PS4L MEMS Wafer Probe Station
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Manual PS4L Double Sided Optoelectronic Wafer Probe Station
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Semiautomatic LED Wafer Probe Tester
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Semiautomatic PS4L 300mm Silicon Photonic Probe Station
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Semiautomatic VCSEL Diode Wafer Probe Station
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Double Sided Wafer Prober For Silicon Photonic Device Testing
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Semiautomatic Double Sided Wafer Prober
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Fully Automatic Silicon Photonic Probe Station with Hexapods
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Manual LAB Assistant Wafer Probe Station with Test Instruments
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Semiautomatic Double Sided Optoelectronic Wafer Prober
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Semiautomatic PS4L Wafer Probe Station for Magnetic Stimulation
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Semiautomatic Magnetic Stimulation & Thermal Test Probe Station
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Weitere Informationen
Anwendungen
Halbleiterforschung, Waferentwicklung, Gerätecharakterisierung, Produktionstests, Fehleranalyse und Materialentwicklung von mikroelektronischen Bauelementen, MEMS, medizinischen Sensoren, Silizium-Photonik, Optoelektronik, Photovoltaik, Mikrowelle, HF/HF, Leistung, Biomedizin, Nanoelektronik, Spintronik, Mikrofluidik und verpackten Geräten usw.
Branchensegmente
Automobil, Medizin, Konsumgüter, Industrie, Luft- und Raumfahrt, Materialwissenschaft, Raumfahrt, Verteidigung und Forschung usw.
SemiProbe Webseite
Region
Deutschland – Europa
Anfrageformular
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